代購日本MCP-T700低抵抗 抵抗率計RMH 110三菱
概述:公制三豐千分尺293-141/293-146u-507上海總代理
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代購MCP-T700 低抵抗 抵抗率計
使用
Loresta - GX是一種測量電阻率的測量儀器,它是材料的評估標準之一。
隨著科學技術(shù)的研究和開發(fā),當然,生產(chǎn)技術(shù)的發(fā)展,在質(zhì)量管理領域的材料越來越嚴格的精度高,在很短的時間周期的管理,它可以很容易,現(xiàn)在是必要的。其中,存在電阻率(表面,體積,電導率)作為表示材料的狀態(tài)和性質(zhì)的指標。 Loresta-GX是一種可以通過校正因子輕松準確地測量電阻率的設備。
該裝置已成為符合JIS K 7194,導電塑料通過各種探針,ITO膜的測量方法,可以在寬范圍的材料如硅晶片進行測量。
不同于傳統(tǒng)的4端子法,而不需要電極制造要被測量,采用多種4點探針與我們的和是可能電阻率測量與單個觸摸。
主要測量對象
(1)導電塑料,電磁波屏蔽材料,硅片,導電橡膠,
導電漆,漿料,油墨,金屬薄膜,ITO玻璃,薄膜等
特點
必要時,可以在必要時以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率,體積電阻率(電阻率)和電導率。
與Loresta GP(10 - 3到107)相比,測量范圍從10 -4擴大到107Ω
可以通過改變電流方向來測量硅晶片
恒流可變功能(可以使用微電流進行樣品測量)
可以使用常規(guī)的Loresta GP探針
2000測量結(jié)果可以輸出到USB存儲器
觸摸面板的可用性提高了可操作性
選項
探測器
名稱/型號/產(chǎn)品縮寫概要圖規(guī)格應用
ASP探測器
MCP - TP 03 P.
RMH 110 JIS K 7194兼容
針腳之間:5毫米
針尖:0.37 R×4件
彈簧壓力:210 g /標準探頭,適用范圍廣
ESP探測器
MCP-TP 08 P.
在RMH 114針之間:5毫米
針尖:φ2mm×4
彈簧壓力:240克/不均勻樣品
LSP探測器
MCP-TPLSP
在RMH 116引腳之間:5 mm
針尖:球D 2 mm×4
彈簧壓力:130克/軟樣品
PSP探針
MCP-TP 06 P.
RMH 112引腳之間:1.5 mm
針尖:0.26 R×4件
彈簧壓力:70克/本適用于樣品或薄膜
QP2探針
MCP-TPQP 2
在RMH 119引腳之間:1.5 mm
針尖:0.26 R×4件
彈簧壓力:70克/細樣,方型
BSP探針
MCP-TP 05 P.
RMH 111引腳至引腳:2.5 mm
針尖:0.37 R×4件
彈簧壓力:210克/本
大樣本
注)無法測量電阻率
NSCP探測器
MCP-NSCP
RMJ在202針之間:1.0毫米
針尖:0.04 R×4件
彈簧壓力:250克/硅片
TFP探針
MCP-TFP
RMJ 217針腳之間:1.0 mm
針尖:0.15 R×4件
彈簧壓力:50 g /用于硅片或玻璃基板上的薄膜
AP2探測器
MCP - TPAP 2引腳之間:10 mm
針尖φ2×2
彈簧壓力:240 g /標準2探針探針
注)無法測量電阻率
BP探測器
MCP-TPBP
RMH 118針尖:φ2×2個
彈簧壓力:240 g / book 2探頭探頭適用于大樣品
注)無法測量電阻率
注)對于BSP探針,AP2探針,BP探針僅有電阻值
探針檢查器
名稱/型號外觀圖電阻值應用
探針檢查器
MCP-TRF 1
RMH304
對于1.0ΩASP/ ESP / LSP
探針檢查器
MCP-TRPS
RMH 311適用于1.0ΩPSP
探針檢查器
MCP-TRTF
RMH 312適用于1.0ΩNSCP/ TFP
探針檢查器
MCP-TRT 2
對于RMH 3351.0ΩAP/ BP
注)QP2沒有探測器
名稱/型號外形圖應用/規(guī)格
腳踏開關
MCP-FS 02
RMJ 802測量開始/測量結(jié)束開關
或者啟動鎖定釋放功能
注冊表UFL
MCP-ST 03
RMJ 354
測量階段
W300×D200×H 10毫米
規(guī)范
測量方法恒定電流施加方法/四點針法
數(shù)據(jù)顯示640×480點7.5英寸全彩TFT液晶觸摸屏
可以分別設置轉(zhuǎn)換器上限值和下限值
探針專用MCP探針ASP,LSP,ESP,PSP,QP 2,BSP,NSCP,TFP,AP 2,BP
數(shù)據(jù)輸出USB存儲器
電源AC 85 - 264 V 47 - 63 Hz
尺寸·重量W320×D285×H110毫米(關于W320×D285×H 200毫米,儲物箱開口處)約2.4千克
標準設備ASP探頭,4針探頭檢查器


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