科研院所專(zhuān)用高溫阻斷測(cè)試系統(tǒng)
概述:
系統(tǒng)概述:
交流阻斷(或反偏)耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下,對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時(shí)間,從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。
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系統(tǒng)概述:
交流阻斷(或反偏)耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下,對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時(shí)間,從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。
一般情況下,此項(xiàng)試驗(yàn)是對(duì)器件在結(jié)溫(Tjm ℃)和規(guī)定的交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下,進(jìn)行規(guī)定時(shí)間的試驗(yàn),并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù),確認(rèn)是否通過(guò), 同時(shí)獲取相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、JEDEC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求。可供半導(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置,作交流阻斷(或反偏)耐久性/ 篩選試驗(yàn)。能滿足IGBT進(jìn)行高溫反偏耐久性試驗(yàn)、高溫漏電流測(cè)試(HTIR)和老煉篩選。
漏電流保護(hù)回路:
在每一試品試驗(yàn)回路中都配置有0.1A的保險(xiǎn)絲,當(dāng)試品在試驗(yàn)期內(nèi)發(fā)生劣化或突然擊穿或轉(zhuǎn)折,保險(xiǎn)絲將熔斷,設(shè)備面板上的相應(yīng)工位的氖燈點(diǎn)亮示警,同時(shí)蜂鳴器報(bào)警提示。
試驗(yàn)電壓保護(hù)回路:
試驗(yàn)電壓由衰減板衰減取樣后反饋到控制單元,通過(guò)峰保器輸出與電壓設(shè)定值比較,當(dāng)試驗(yàn)電壓高于電壓保護(hù)設(shè)定值時(shí),過(guò)壓報(bào)警器響,同時(shí)保護(hù)繼電器動(dòng)作切斷高壓輸出。
高壓回路:
由電源開(kāi)關(guān)、控制繼電器、自藕調(diào)壓器、高壓變壓器、波形變換電路組成,產(chǎn)生規(guī)定的試驗(yàn)電壓并通過(guò)組合高壓線排,接入試品工位。
技術(shù)指標(biāo):
|
試驗(yàn)電壓 |
VDRM.VRRM/VRRM 300V ~ 4000V 連續(xù)可調(diào), 50HZ工頻 |
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試驗(yàn)電流 |
IDRM.IRRM/IRRM 1.0 mA ~200.0mA |
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試驗(yàn)溫度 |
溫度范圍:室溫~150℃;溫度均勻性125℃±3℃; |
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試驗(yàn)工位 |
10工位 |
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試驗(yàn)容量 |
80×16=1280位 |
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加電方式 |
器件試驗(yàn)參數(shù)從器件庫(kù)中導(dǎo)入,ATTM自動(dòng)加電試驗(yàn)方式,可單通道操作;老化電源可根據(jù)設(shè)定試驗(yàn)電壓和上電時(shí)間程控步進(jìn)加載 |
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