15J測量顯微鏡

概述：用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
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放大倍數測量臺刻度盤

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15J測量顯微鏡

用途

測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下：

1．直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。

2．轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

規格

物鏡		目鏡		顯微鏡放大倍數	工作距離（mm）	視場直徑（mm）
放大倍數	焦距（mm）	放大倍數	焦距（mm）
2.5X/0.08	43.40	10X	25.00	25X	58.84	5.6
10X/0.25	17.13			100X	7.81	1.4

測量工作臺讀數裝置主要規格

X軸移動測量范圍 50 mm

Y軸移動測量范圍 13 mm

測微器分度值 0.01mm
測量臺轉動范圍不限

測量臺刻度盤分度范圍 0°〜360°

測量臺刻度盤之分度值 1°

測量臺刻度盤游標讀數示值 6’

測量精度

儀器示值誤差：±（5+L/15）μm

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差

注：測量地點溫度變化（20±3）℃

L-被測件長度（mm）

儀器主要尺寸

測量臺與物鏡間之最大距離 80mm

測量工作臺直徑 120mm

儀器外形尺寸 262×220×325mm

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