功能異常
所有分類下結果單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
