功能異常 選購指南
無接觸少子壽命掃描儀
產品介紹: HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業不可多得的測量儀器。 產品特點 ■ 無接觸和無損傷測量 ■ 自......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
